温度影响试验
传感器的温度影响试验应按GB/T2423.-2008 2423.2-2008进行。
试验时,首先记录环境温度,在一般试验大气条件下进行3次上、下限校准循环,测其在一般试验大气条件下的零点输出平均值及满量程输出平均值;也可将传感器置于箱内温度与环境温度一致的合适的高低温试验箱内进行检测。然后,将传感器置于合适的高低温试验箱内,在一定的温度(至少是工作温区的上、下限)下经过规定时间的充分热稳定之后,记录其温度值并进行一次测量上、下限校准循环(只测一次循环),返回到开始前的同一温度值,再测一次零点输出值及满量程输出值(允许只测一次)最后按附录A的式(A.35) ~式(A.40)计算热零点漂移(a)、热满量程输出漂移(g)、热零点滞后(an)和热满量程输出滞后(pu),试验结果应符合传感器详细规范规定的要求。

振动影响试验
传感器的振动影响试验应按GB/T 2423.10-2008的规定进行
试验时,将传感器安装在振动试验台上,按规定的频率和振幅(或加速度),沿规定的方向振动。记录传感器振动前和振动过程中的零点输出信号,并按式(A.41)计算振动对零点的影响。振动试验后静态性能试验,试验结果应符合传感器详细规范规定的要求。

 
振动机构